gute aussichten_mustererkennung

20120814 - 20121014

 
Die Themenausstellung »gute aussichten_mustererkennung«, präsentiert 12 ausgewählte fotografische Positionen von gute aussichten- Preisträgern der Jahre 2004 bis 2011.



Die Themenausstellung »gute aussichten_mustererkennung«, präsentiert 12 ausgewählte fotografische Positionen von gute aussichten- Preisträgern der Jahre 2004 bis 2011. Sie wird kuratiert von Wibke von Bonin in enger Zusammenarbeit mit dem Museum für Angewandte Kunst Köln (MAKK).

Die Ausstellung demonstriert die große Bandbreite von Themen, mit denen sich junge Fotografen – oft über Jahre hinweg – intensiv auseinander setzen. Ob es dabei um reine Bildstrategien, um aktuelle politische Fragen, um historische Kontexte, mediale Übersetzungen oder die Vielschichtigkeit des Mediums geht – keine der Arbeiten begnügt sich mit der reinen Abbildung einer vermeintlichen Wirklichkeit.

Abbildung: Observatoire IV, 2010 © Margret Hoppe


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