Die Themenausstellung »gute aussichten_mustererkennung«, präsentiert 12 ausgewählte fotografische Positionen von »gute aussichten«- Preisträgern der Jahre 2004 bis 2011.
Die Themenausstellung »gute aussichten_mustererkennung«, präsentiert 12 ausgewählte fotografische Positionen von »gute aussichten«- Preisträgern der Jahre 2004 bis 2011. Sie wird kuratiert von Wibke von Bonin in enger Zusammenarbeit mit dem Museum für Angewandte Kunst Köln (MAKK).
Die Ausstellung »gute aussichten_mustererkennung. junge deutsche fotografie« demonstriert die große Bandbreite von Themen, mit denen sich junge Fotografen – oft über Jahre hinweg – intensiv auseinander setzen. Ob es dabei um reine Bildstrategien, um aktuelle politische Fragen, um historische Kontexte, mediale Übersetzungen oder die Vielschichtigkeit des Mediums geht – keine der Arbeiten begnügt sich mit der reinen Abbildung einer vermeintlichen Wirklichkeit.
Mit dem Bewusstsein, in einer Gegenwart zu leben, die in ihrer Komplexität für den Einzelnen kaum mehr zu erfassen ist und in ihrer Flüchtigkeit das Beziehen fester Positionen fast ausschließt, stellen sich die jungen Fotografen den existenziellen Fragen. Auf der Suche nach dem Wesentlichen in unserer Welt sind sie auf Strukturen und Texturen gestoßen, auf Flüchtigkeiten und Gefüge, die unser Dasein prägen. So lassen sie uns Zusammenhänge, Wiederholungen und Stereotypen erkennen – Muster.
